澳门新葡金官方(中国)有限公司

热像仪对LED芯片检测的过程和系统解决方案
发布日期:2018-08-21 15:57

温度是LED芯片的核心技术指标,其代表着LED器件的设计水平,发热和散热情况直接影响LED产品的寿命和颜色质量,但由于LED芯片非常之小,传统检测方式无法进行测温,本文以案例叙述使用大师之选系列热像仪对LED芯片检测的过程和系统解决方案。


图中可看出红圈处为LED芯片,周边部分为电极,芯片的尺寸为2mm×1mm。从热像画面可清晰看出,芯片的左右侧温度不均匀,研发人员可以此为能依据,改进器件材料和散热设计。

案例:

某知名光电器件制造商,在研发新产品中,需要对LED芯片的温度分布进行观测和分析,改善器件的发热和散热设计。

现场检测方案:

1、配套微距镜头2

2、安装三脚架和二维可调精密位移云台,部分现场需要热像仪垂直向下检测。

3、将热像仪手动调焦至“Near”框成红色,表示已完成最小目标的对焦。

4、细微调节精密位移云台,直至图像最为清晰。

5、在热像仪上对热图画面进行缩放,观测芯片的温度分布。

6、在SmartviewApp上对芯片的温度分布进行分析,并导出温度数据。



以上检测方案可利用在光电芯片器件、电子芯片器件制造商等行业。

关键词:LED芯片 热像仪 温度
浏览量:8576
编辑:夏禅
声明:凡本网注明"  来源:澳门新葡金官方"的所有作品,版权均属于澳门新葡金官方,未经本网授权不得转载、摘编使用。
经本网授权使用,并注明"来源:澳门新葡金官方"。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源的作品,归原版权所有人所有。目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如有作品的内容、版权以及其它问题的,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
本网转载自其它媒体或授权刊载,如有作品内容、版权以及其它问题的,请联系大家。相关合作、投稿、转载授权等事宜,请联系本网。
QQ:2268148259、3050252122。
展开全文

澳门新葡金官方|澳门新葡金官方

XML 地图 | Sitemap 地图