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R&S光电器件测试解决方案


  来源: 罗德与施瓦茨中国 时间:2022-10-19 编辑:清风
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罗德与施瓦茨(以下简称“R&S企业”)在光电元器件领域长期探索及积累,推出的频域参数测试方案和时域参数测试方案,能够帮助用户快速可靠地测量这些光电元器件的频域和时域参数,助力用户实现高效率高质量的研发和生产


频域参数测试应用场景


E/E器件测量:


仅使用矢量网络分析仪即可实现E/E器件测量。E/E器件的测量重点主要是传输带宽、插入损耗或增益、阻抗匹配和群延时。



O/O器件测量:


在测试光电器件之前,通常在射频同轴电缆或探头的末端对矢量网络进行校准。通常对传输系统的带宽和群时延进行测试。可测试无源光器件的插入损耗、分散效应引起的带宽限制,以及光群时延。除了基本的矢量网络电口校准外,O/O器件测试还需要一步式光纤校准。经校准的E/O和O/E器件与光纤连接。经归一化校准,可以消除整个系统的误差。



E/O器件测量:


EOM、DML或TOSA是最为常见的E/O器件。双驱动光调制器可用4端口矢量网络分析仪(如R&S®ZNA)进行表征。



频域参数测试方案



GOCA系列通用光电元器件分析仪由专用光电底座和R&SZNA、ZNB等系列矢量网络分析仪协同构成,不仅可实现电器件参数分析,还可实现用户对于直调激光器、电光调制器、光电探测器、光微环、光栅等光电芯片、器件和模块的测量,支撑S参数、截止频率、差分/共模参数、延时参数、交调/互调参数、噪声系数等关键数据的获取,适用于光电元器件研发、生产和应用的整个周期链。


测试系统方案构成:

ZNA67微波矢量网络分析仪

GOCA-67光电底座


方案优势:

覆盖电-光、光-电、光-光、三种光学器件性能参数测试

测量频率最高可达110GHz

测量波长覆盖1550nm / 1310nm / 850nm


示波器光器件时域测试解决方案



R&S联合Newport科技推出光器件测试解决方案,可帮助用户快速的测试光电元器件的时域参数。Newport光电探测器和RTO6、RTP等系列示波器协同工作,集成光电元器件时域参数的测量功能。实现了激光元器件的参数分析,还支撑光电信号分析,可用于光电元器件的研发、生产和应用。



RTO6示波器系列提供出色信号,助您了解应用情况。这款全集成式测试解决方案兼具15.6"大触摸屏、全新图形用户界面、一流的波形捕获率、卓越的信号保真度、数字触发和快速响应的深存储,可用于频率、协议和逻辑分析。RTO6示波器系列具有丰富的测量工具和新型用户界面,能够快速解决各种简单或复杂的电路问题。


产品亮点:

最大 6GHz带宽

每秒一百万波形

9.4ENOB,确保非凡的信号完整性

最大2Gpoints 存储深度

关键词:R&S 光电器件测试 解决方案    浏览量:4963

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